产品加速试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不太适合。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的产品加速试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。
产品加速试验是用加大试验应力(诸如热应力、湿应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。产品加速试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，大大的缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。
产品加速试验常见的物理模型
元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。
失效率模型
失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。
应力与强度模型
该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度关系。应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。
较弱链条模型
较弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中较薄弱的部位这一事实而提出来的。该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效较为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露较显著、较迅速的地方，就是较薄弱的地方，也是较先失效的地方。
反应速度模型
该模型认为元器件的失效是由于微观的分子与原子结构发生了物理或化学的变化而引起的，从而导致在产品特性参数上的退化，当这种退化超过了某一界限，就发生失效，主要模型有 Arrhenius 模型和 Eyring 模型等。
产品加速试验加速因子的计算
产品加速试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。产品加速试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此，加速因子的计算成为加速寿命试验的核心问题，也成为厂商较为关心的问题。加速因子的计算也是基于一定的物理模型的。经常使用的加速因子有：温度加速因子、电压加速因子、湿度加速因子、温度变化加速因子。
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